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差热分析仪
名称 差热分析仪
型号 YND-A1
报价
特点 上海盈诺研发生产第三代差热分析仪,一体式结构,无需外接电脑,YND-A1为氧化诱导专用仪器,一键式操作全自动运行
全面替代我公司原有DSC-500A,且使用性、适用性均有明显提高,更加方便用户的操作、节省操作空间、无需另购配套电脑。}
  • 详细内容

技术特点:

1:氧化诱导期专用测试仪,客户一键式操作,软件全自动运行。

2:全新传感器样品支架,全封闭结构设计,防止物品掉入到炉体中去。

3:仪器符合G B /T 19466.3- 2009/ISO 11357-3 :1999 第6部分 氧化诱导期氧化诱导时间(等温OIT)和氧化诱导温度(动态OIT)的测定。

4:内嵌10寸超大工业级别的电脑,无需另配电脑,一体化设备,显示信息丰富,包括设定温度、样品温度,氧气流量,氮气流量,差热信号,各种开关状态,流量归零。

5:仪器右侧标配四路USB接口,方便用户外接鼠标、键盘、打印机,U盘等外部设备,方便用户使用。

6:仪器内部USB通讯接口,相对于原有仪器,稳定性更强、通用性强,通信可靠不中断,支持自恢复连接功能。

7:数字气体质量流量计自动切换两路气氛流量,切换速度快,稳定时间短。

8:标配标准样品,方便客户校正恒温系数。

9:预安装软件,无电脑适应性问题,减少由于更换使用电脑,安装驱动错误导致的连接等问题。

10:支持用户自编程程序,实现测量步骤全自动化。软件提供数十种指令,用户可根据自己的测量步骤,灵活组合各指令,并保存。复杂的操作就简化成一键操作。

11:配置WIN 10系统,拥有32GB容量、2GB系统内存,无需使用U盘转移数据,仪器内部即可存储,操作方式触摸屏与鼠键均可使用

差热分析仪应用范围:

氧化诱导时间(OIT)是测定样品在高温(200摄氏度)氧气条件下开始发生自动催化氧化反应的时间,是评价材料在成型加工、储存、焊接和使用中耐热降解能力的指标。

氧化诱导期(简称OIT)方法是一种采用差热分析法(DTA)以塑料分子链断裂时的放热反映为依据,测试塑料在高温氧气中加速老化程度的方法。

其原理是:将塑料式样与惰性参比物(如氧化铝)置于差热分析仪中,使其在一定温度下用氧气迅速置换式样室内地惰性气体(如氮气)。测试由于式样氧化而引起的DTA曲线(差热谱)的变化,并获得氧化诱导期(时间)OIT(min),以评定塑料的防热老化性能。

仪器符合G B /T 19466.3- 2009/ISO 11357-3 :1999 第6部分氧化诱导期。氧化诱导时间(等温OIT)和氧化诱导温度(动态OIT)的测定。

氧化诱导期已经被纳入管道行业及电线电缆强检范围。

技术参数:

1: 温度范围: 室温~500℃      

2: 温度分辨率: 0.01℃          

3: 升温速率: 0.1~80℃/min  

4: 控温方式:升温,恒温(全自动程序控制)

5: DSC量程:  0~±500mW     

6: DSC解析度: 0.01mW                         

7: DSC灵敏度: 0.1mW

8: 工作电源: AC 220V  50Hz或定制

9:气氛控制气体:氮气 氧气(仪器自动切换)

10:气体流量:0-200mL/min  

11: 气体压力:0.2MPa

12: 气体流量精度:0.2mL/min 

13: 选配坩埚:铝质坩埚Φ6.7*3mm 

14: 参数标准: 配有标准物质(铟,锡,锌),用户可自行校正温度和热焓

15: 数据接口:标准USB接口(接口内置,无需外部连接)

16: 显示方式: 10寸工业电脑触摸显示,可外接鼠标、键盘、U盘、打印机

如果你对YND-A1差热分析仪感兴趣,想了解更详细的产品信息,填写下表直接与厂家联系:


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